Nordson Sonoscan C-SAM® Gen7™

Il microscopio acustico a scansione C-SAM® Gen7™ appartiene all'ultima generazione di macchinari per l'Acoustic Micro Imaging (AMI). I miglioramenti includono le tecnologie più all'avanguardia, estetica ed ergonomia con la più ampia gamma di funzioni disponibili.

Che si tratti di analisi guasti non distruttive, sviluppo di processi, ricerca e sviluppo, qualifiche High-Rel per applicazioni militari o screening a basso / medio volume, il Gen6 è un sistema C-SAM in grado di soddisfare tutte queste vostre esigenze. Questo macchinario è perfetto per una vasta varietà di applicazioni, tra cui Microelettronica, MEMS, LED SSL, moduli di potenza, pannelli solari, materiali avanzati, ecc.

Funzionalità avanzate di Sonoscan come PolyGate™, SonoSimulator™, Virtual Rescanning Mode (VRM)™ e Frequency Domain Imaging (FDI)™ aggiungono valore e affidabilità alle analisi. Con la sua ampia area di scansione illuminata a cui è facile accedere, Gen7 ha la capacità di scansionare in modo efficiente qualsiasi cosa, da una piccola parte a un wafer da 300 mm.

Oltre ad essere ricco delle principali innovazioni Sonoscan, il Gen7 è stato progettato con cura pensando all'utente. Le sue caratteristiche ergonomiche lo rendono facile e comodo da usare. Il software Sonolytics™ 2 e i menu intuitivi dell'interfaccia grafica aiutano a massimizzare i risultati, facendo risparmiare tempo all'operatore. Inoltre, l'ampia area di accesso e la fase di campionamento mediante un punto riferimento, facilitano il carico e lo scarico dei campioni.

Le caratteristiche principali del Sonoscan Gen7 sono:

  • Risoluzione monitor 4K
  • Software Sonolytics™ 2
  • Area di scansione ampiata del 23% (rispetto al Gen6)
  • Tecnologia PolyGate™ con funzioni Multi-Gate™ e Probing-Gate™ in grado di eseguire immagini singole e multi-focus
  • Fino a 100 gate per canale con frequenza di campionamento di 2 Gsps
  • Windows® 10 64 bit multilingue
  • Scanner bilanciato a motore lineare con contrappeso per ridurre al minimo le vibrazioni e garantire risultati di scansione ottimali
  • Piattaforma di scansione montata su torre
  • Area di scansione ad accesso facilitato in grado di ospitare vassoi JEDEC, wafer da 300 mm o parti fino a 350 mm
  • Disponibili opzioni di ricircolo dell'acqua e controllo della temperatura
  • Virtual Rescanning Mode (VRM)™ che memorizza tutti i dati di una scansione e consente di eseguire diverse analisi, anche quando il campione non è più disponibile
  • SonoSimulator™ che aiuta nella scansione di campioni sottili e multistrato, come stacked die
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